Компания Axic была основана в 1980 году с целью обеспечения научного сообщества доступным оборудованием хорошего качества. Первые разработки компании — системы рентгеновского и электронно-лучевого анализа состава и толщины тонкопленочных покрытий — были созданы для решения задач в области оптики, полупроводников и сверхпроводников.
В 1992 году Axic успешно вышла на рынок лазерных рефлектометров с системами, позволяющими измерить толщину, коэффициент отражения и поглощающие свойства прозрачных и полупрозрачных пленок. Для собственных нужд компанией были разработаны установки плазменной очистки, ставшие вскоре очень востребоваными, благодаря компактности, гибкости и простоте использования. Помимо систем контроля, Axic предлагает решения для плазменной очистки и снятия фоторезиста, реактивного ионного травления и химического нанесения тонких пленок.
Продукция Axic получила широкое распространение не только в исследовательской, но и в производственной среде. Клиентами компании являются Intel, Texas Instruments, Motorola, Fujitsu, Northern Telecom, Silicon Systems, Hewlett Packard, IBM, AT&T, David Sarnoff, Thompson CSF, Philips, Applied Materials, I.T.T., Raytheon, Advanced, ...
