2–3 ноября в Москве состоялась Международная выставка и конференция по технологиям, стандартам и оборудованию в области микроэлектроники «SEMIEXPO Russia 2020».
На площадке нашего стенда можно было получить обновлённый каталог «Микроэлектроника», обсудить новые тенденции и перспективы отрасли. Демонстрация оборудования состоялась в ЦВК «Экспоцентр» (павильон № 5, зал 1, стенд B04).
Данный этап необходим для выявления основных дефектов трафаретной печати: разрывы, замыкания дорожек, отступление от заданной толщины, наличие точечных «проколов».
