Сканирующий акустический микроскоп ꜛ AcouLab SAM-DENEB Сканирующий акустический микроскоп ꜛ AcouLab SAM-DENEB Программное обеспечение сканирующего акустического микроскопа AcouLab SAM-DENEB ꜛ

Высокая скорость сканирования, широкий диапазон частот, оптимальное разрешение при очень небольших габаритах делают акустический микроскоп SAM-DENEB эффективным и современным решением для неразрушающего контроля.

Акустическая микроскопия — это метод неразрушающего контроля, позволяющий выявлять скрытые дефекты в однородных и разнородных объектах и структурах. В микроэлектронике акустическая микроскопия применяется для выявления дефектов выводов flip-chip микросхем, пустот и расслоений, образующихся при монтаже и заливке кристаллов, трещин и повреждений микросхем и т.п.

Базовым способом поиска дефектов является Эхо-метод (метод отраженных импульсов). В однородной среде твердого тела любая граница раздела будет приводить к отражению волны. Рабочая голова микроскопа регистрирует обратный сигнал, позволяя по эхограмме определить размеры дефекта и его расположение.


Преимущества установки:

  • простой принцип действия
  • широкий диапазон частот
  • высокая проникающая способность акустической волны
  • высокая чувствительность, позволяющая распознавать субмикронные дефекты
  • возможность объемного контроля
  • безопасность для оператора и среды
  • возможность исследования широкой номенклатуры изделий помимо изделий электронной промышленности

Области применения:

  • Flip-chip выводы корпусированных микросхем
  • дефекты герметизации в корпусированных микросхемах
  • трещины и расслоения кристаллов в корпусированных микросхемах
  • расслоения на подложках и многослойных печатных платах
  • дефекты монтажа кристаллов (загрязнения, расслаивание адгезива, пустоты в пайке и др.)
  • дефекты в LTCC

Возможности программного обеспечения:

  • операционная система Windows7
  • автоматический и ручной режимы работы
  • автоматическая фокусировка
  • сканирование вида «сигнал-эхо» и «сквозной режим»
  • сканирование в режимах: A, B, C — Scan, FFT — Scan, TOF 3D, Multi-Layer Scan, Tray Scan, Strip Scan

Рис. 1. AcouLab SAM-DENEB ꜛ сканирующий акустический микроскоп
Рис. 1 — AcouLab SAM-DENEB ꜛ программное обеспечение
Рис. 2. AcouLab SAM-DENEB ꜛ сканирующий акустический микроскоп
Рис. 2 — AcouLab SAM-DENEB ꜛ результат сканирования
Диапазон частот до 500 МГц
Область сканирования, мм до 350×350
Высота образца, мм до 70
Область размещения образца, мм 500×520
Разрешение системы позиционирования 0,5 мкм по оси X, линейный привод
1 мкм по оси Y, шаговый двигатель
2,5 мкм по оси Z, шаговый двигатель
Скорость сканирования, мм/сек до 1000
Монитор 24” LCD
Электропитание 230 В, 50 Гц, 1 фаза

За дополнительной информацией или консультацией обратитесь к менеджерам компании «Глобал Микроэлектроника».

Офис в Москве

Глобал Микроэлектроника

Высокая скорость сканирования, широкий диапазон частот, оптимальное разрешение при очень небольших габаритах делают акустический микроскоп SAM-DENEB эффективным и современным решением для неразрушающего контроля.

г.Москва Высоковольтный проезд, 1/49, офис 218

+7 495 902 7921

Время работы: